XLE-3大平台高倍金相显微镜
XLE-3大平台金相显微测量分析系统是从SJ2008基础上改进而成的。
XLE-3大平台高倍金相显微镜包括数码金相显微镜及高级图像测量分析软件.系统集成了传统目视与现代影像功能，XLE-3大平台高倍金相显微镜拥有内置高亮度可持续调节的同轴光，.254mmx254mm大范围载物移动平台，高达400X－4000X的电子放大倍率和40 X－400 X的光学放大倍率, ±300纳米测量精度，使成像更加清晰可见.专业开发高级图像测量分析软件,能够快速精确的捕捉各种图像,具有图像测量、管理及处理等功能.
XLE-3大平台高倍金相显微镜适用于IC芯片、PCB覆铜板、液晶屏导电离子的检测和工矿、科研,教学等单位研究和观察等.尤其对于细小颗粒、粉末试样、大批金相和大面积硅片的检测,可得到完美的图像效果.
XLE-3大平台高倍金相显微镜是经济普及型亚纳米级测量产品,比同类产品具有优越的性价比.
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